Le microscope électronique à balayage (MEB) est une technique d’imagerie puissante permettant de caractériser la morphologie (forme, dimension, arrangement de particules, etc.), la topologie de surface (relief, texture, etc.), la composition chimique (ratios relatifs d’éléments chimiques du carbone à l’uranium) et de fournir de précieuses informations cristallographiques (structure atomique) d’un échantillon. Cette technique permet d’analyser d'une multitude d’échantillons de toutes formes, compositions et tailles pour des échantillons stables sous vide. Méthode non destructrice pour des matériaux conducteurs mais destructrice pour des matériaux isolants puisque les échantillons doivent être recouverts d’une mince couche conductrice (carbone ou alliage de palladium).

• Grossissements pratiques de 10X à 500,000X 

• Images en électrons secondaires (SE), rétrodiffusés (BSE) ou cartographies rayons-X 

• Spectromètre pour l'analyse des rayons-X par dispersion de l'énergie EDAX

• Imagerie digitalisée