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Microscope électronique à balayage (MEB) FEI Inspect F50
Description de l’appareil et de la technique
Le microscope électronique à balayage (MEB) est une technique d’imagerie puissante permettant de caractériser la morphologie (forme, dimension, arrangement de particules, etc.), la texture superficielle, ainsi que la composition chimique (avec un détecteur EDS). Cette technique permet d’analyser d'une multitude d’échantillons de toutes formes, compositions et tailles pour des échantillons stables sous vide. Méthode non destructrice pour des matériaux conducteurs mais destructrice pour des matériaux isolants puisque les échantillons doivent être recouverts d’une mince couche conductrice (carbone ou alliage de palladium).
Grossissements pratiques de 10X à 300.000X . Pour des grossisement >300.000X, veuillez communiquer avec le responsable de l'instrument.
Images en électrons secondaires (SE), rétrodiffusés (BSE) ou cartographie rayons-X .
Spectromètre pour l'analyse des rayons-X par dispersion de l'énergie EDAX.
Imagerie digitalisée.
FEI Inspect F50
Tarification
Catégories d'utilisateur | Assisté (heure)* | Autonome (heure) | Traitement des données et/ou *formation (heure) | Métallisation (C, Au-Pd, Pt-Pd, Cr) (heure) |
|---|---|---|---|---|
Université Laval | 80 $ | 50 $ | 80 $ | 80 $ |
Recherche universitaire - Organisation supportée par des fonds publics | 132 $ | 130 $ | 130 $ | |
Industrie | 240 $ | 240 $ | 240 $ |
Contact
Réservation
Préparation des échantillons
Les échantillons nécessitent certaines préparations pour garantir des résultats conformes.
1. Solides:
- Surface polie type miroir.
2. Lames minces:
- Épaisseur minimale de 30 microns.
- Sections polies: diamètre (D) maximal de 2.5 cm et une hauteur (H) maximale de 3 cm.
3. Poudres:
- Encapsulation dans une section polie: diamètre (D) maximal de 2.5 cm et une hauteur (H) maximale de 3 cm.
4. Échantillons non conducteurs:
- Métalisation: déposition d’une couche de Au-Pd, Pt-Pd pour imagerie.
Pour tout autre type d'échantillons, communiquez avec le responsable de l’instruments pour plus dinformations.