Le diffractomètre à rayons X de Malvern Panalytical (Empyrean de 3e génération) permet une grande variété de mesures pour tous types d’échantillons (poudres, couches minces, nanomatériaux et les objets solides). Le DRX permet l’identification et semi-quantification de phases cristallines contenues dans un échantillon. La technique mesure la distance entre les plains atomique, basé sur la loi de Bragg. Plusieurs configurations d’analyse sont possibles avec cet instrument. La diffusion de rayons X aux petits angles (SAXS), laquelle mesure l'intensité des rayons X diffusés par un échantillon entre 0.1 et 5 degrés avec des caractéristiques structurelles nanométriques (1- 100 nm). La diffusion de rayons X aux grands angles (WAXS) sonde les structures des matériaux sur une échelle de longueur beaucoup plus petite, celle des distances interatomiques. Pour l’analyse de la nanostructure des couches minces et des surfaces, la diffusion de rayons X aux petits angles en incidence rasante (GISAXS) et la diffusion de rayons X aux grands angles en incidence rasante (GIWAXS) permettent d’obtenir des informations sur les dimensions et les organisations latérales des nanoélements. La microdiffraction, laquelle nous d’identifier des phases cristallines in situ, tout en gardant la texture et structure de l’échantillon sur une région minimum d’environ 500x500 um