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Spectromètre de fluorescence des rayons X portable (p-XRF) Bruker Tracer
IIISDT

Description de l’appareil et de la technique

Le Bruker Tracer-III SD est un spectromètre de fluorescence de rayons X portatif qui permet une analyse qualitative, nondestructive et rapide d’éléments allant Magnésium à l'Uranium avec une rapidité d’acquisition des données (1-3 minutes) et une préparation minimale des échantillons. Le principe de fonctionnement et de détection est semblable à celui que l’appareil de micro-XRF. En activant la détente, le pistolet génère un faisceau de rayons X qui pénètre dans l’échantillon (10-100μm). Cet instrument permet l’étude de divers types d’échantillons avec une préparation minimale, tels que des roches, béton, alliages, etc.

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Bruker Tracer III SD

Contact

Contact


Enzo Caraballo Rojas, PhD


Tel: 418 5622131 poste 405035

Courriel: microlab-microxrf@fsg.ulaval.ca

Réservation

Préparation des échantillons

Les échantillons (solides, poudres, liquides) ne requièrent peu ou pas de préparation pour les analyses. Afin de maximiser les conditions d'analyse, même si les échantillons peuvent être de forme irrégulière, la surface à analyser devrait être plate et régulière, exempte de poussières, de corrosion, ou autres contaminants. L'analyse étant effectuée sur la surface de l'échantillon, celle-ci doit être représentative de l'ensemble du matériau.


Les trois principales applications de l'a analyseur XRF portable sont :

- Analyse minérale 

- Détermination des alliages / analyse chimique

- Analyse des sols


Communiquez avec le responsable de l’instrument pour plus d'informations. 

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