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X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) KRATOS Analytical AxisUltra
Analyse de surface des matériaux
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a non-destructive analytical technique in which x-rays bombard the surface of a material and the kinetic energy of the emitted electrons is measured. It is widely used to characterize the surfaces of various materials (inorganic compounds, organics, semiconductors, natural materials (lignocellulose) and synthetics (meso- and microporous ceramics). This technique analyzes the outer layer of materials (1 to 10 nm; 30 atomic layers) and allows the characterization of: 1) the chemical composition of material surfaces (element identification); 2) the relative abundance of these components on surfaces (semi-quantitative analysis) and; 3) the oxidation state of surface elements (precision depending on the quantity and complexity of the sample). All elements of the periodic table (Li to U) are detectable, with the exception of hydrogen and helium.
4
Disponibilité et contact
3
Tarification
2
Types d'échantillons
1
Technique et applications
La spectroscopie de photoélectrons X, ou XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy), est une méthode d’analyse chimique des surfaces fondée sur l’effet photoélectrique. Elle permet d’identifier les éléments présents dans les premières couches d’un matériau, d’estimer leurs concentrations atomiques relatives et de déterminer leur environnement chimique. La XPS est particulièrement sensible aux états d’oxydation, aux liaisons chimiques, aux contaminants, aux traitements de surface et aux interfaces de faible profondeur. Dans la plupart des matériaux, l’information analytique provient principalement des premiers nanomètres, même si les rayons X pénètrent beaucoup plus profondément.
1 | Production des rayons X
Dans une source XPS conventionnelle, des électrons émis par une cathode sont accélérés vers une anode métallique. Leur interaction avec l’anode produit un rayonnement continu de freinage et des raies X caractéristiques. Les sources les plus courantes utilisent les raies Al Kα, d’une énergie nominale d’environ 1486,6 eV, et Mg Kα, d’environ 1253,6 eV. Les pièces en aluminium et en magnésium doivent donc être désignées comme des anodes ou des cibles, et non comme des cathodes.
Une source monochromatique utilise un cristal pour sélectionner une bande étroite autour d’une raie caractéristique, le plus souvent Al Kα. La monochromatisation réduit la largeur énergétique du rayonnement incident, élimine une grande partie du continuum et des raies satellites et améliore ainsi la résolution énergétique. Cette amélioration est essentielle lorsque plusieurs états chimiques produisent des pics séparés par seulement quelques dixièmes d’électronvolt.
La zone irradiée et la zone effectivement analysée ne sont pas nécessairement identiques. La résolution latérale dépend à la fois de la taille du faisceau X et du champ accepté par l’optique électronique. Selon la configuration, l’instrument peut produire des spectres ponctuels, analyser de petites zones ou reconstruire des images chimiques. Il est donc important de comparer la zone d’analyse à la taille réelle des phases, défauts ou contaminants étudiés
Instrument
Sample preparation
Samples analyzed by XPS are solids (powders and films) including inorganic compounds, metal alloys, semiconductors, polymers, catalysts, glasses, ceramics, wood, biomaterials and many other materials.
Proper sample preparation is essential to prevent contamination of the surface to be analyzed. Generally, samples are analyzed “as is”, as any chemical treatment may leave residues that become a source of contamination.
Maximum sample size for XPS analysis is 20 mm x 70 mm and up to 5 mm thick. Samples must be stable under ultra-high vacuum (< 10-9 Torr). Thicker samples can also be processed.
Please contact your instrument manager for further details concerning your analyses.
ECHANTILLONS COMPATIBLES
Types d'échantillons
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User Fees
Les tarifs du MicroLab sont établis en fonction du type d’utilisateur, de la modalité d’utilisation de l’instrument et, selon le service, de la durée d’analyse ou du nombre d’échantillons. Certaines prestations, notamment la préparation d’échantillons, peuvent être facturées par échantillon, tandis que l’utilisation des instruments et le traitement des données sont généralement facturés sur une base horaire ou journalière.
Catégories d’utilisateurs
Université Laval
Cette catégorie comprend les utilisateurs dont les projets sont financés, en totalité ou en partie, par l’Université Laval, quelle que soit la faculté ou l’unité de rattachement. Elle inclut notamment les étudiants de premier, deuxième ou troisième cycle réalisant des travaux dans le cadre d’un projet de recherche supervisé par un professeur ou un chercheur de l’Université Laval.
Recherche / fonds publics
Cette catégorie regroupe les étudiants, professeurs, chercheurs et professionnels provenant d’autres universités, cégeps ou centres de recherche canadiens, lorsque les travaux sont réalisés dans le cadre de projets ou au sein d’institutions financés principalement par des fonds publics. Ceux-ci peuvent notamment provenir d’organismes gouvernementaux ou paragouvernementaux, de programmes de recherche fédéraux ou provinciaux ou d’autres sources de financement public.
Industrie
Cette catégorie s’applique aux entreprises privées et aux travaux réalisés dans un contexte industriel ou commercial.
Modalités d’utilisation
Lorsque plusieurs modalités sont proposées pour un instrument, les tarifs distinguent l’utilisation assistée et autonome.
Assisté
L’instrument est opéré par l’opérateur principal ou le responsable technique. Celui-ci prend notamment en charge la mise en route de l’analyse, le changement des échantillons lorsque nécessaire et accompagne l’utilisateur pendant les différentes étapes de la mesure. Cette modalité est particulièrement adaptée aux analyses nécessitant une expertise instrumentale spécifique ou aux utilisateurs occasionnels.
Autonome
Après avoir suivi une formation appropriée, l’utilisateur peut réaliser lui-même ses analyses et, lorsque nécessaire, effectuer les changements d’échantillons. L’utilisation demeure toutefois sous la supervision du responsable de l’instrument. La formation initiale est facturée en fonction du temps requis et comprend le temps du personnel ainsi que l’utilisation de l’instrument.
La modalité autonome est réservée aux utilisateurs de l’Université Laval et dépend de l’instrument, du type d’analyse et du niveau d’expérience de l’utilisateur. Pour connaître les conditions d’accès à cette modalité, il est recommandé de communiquer avec le responsable de l’équipement concerné.
Tarification selon la durée des analyses
Pour les prestations disposant de tarifs horaire et journalier, la facturation est établie en fonction de la durée totale d’utilisation de l’instrument, incluant le temps nécessaire à sa préparation et à sa configuration pour l’analyse.
Pour une durée inférieure à 6 heures, le tarif horaire est appliqué. À partir de 6 heures et jusqu’à 24 heures, un forfait journalier est appliqué. Au-delà de 24 heures, la facturation se poursuit par fractions journalières, conformément au tarif journalier applicable.
Le forfait journalier est particulièrement avantageux pour les analyses de longue durée : son coût correspond généralement à celui de six heures d’utilisation, tout en permettant d’occuper l’instrument jusqu’à 24 heures. Il évite ainsi une augmentation continue du coût pour les acquisitions prolongées et permet de mieux prévoir le budget associé à une session d’analyse. Par exemple, une analyse de 12, 18 ou 24 heures demeure facturée au même forfait journalier plutôt qu’au cumul des heures individuelles.
Les prestations affichées « par échantillon » sont facturées selon le nombre d’échantillons traités, indépendamment de cette structure horaire/journalière.