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Microscopio electrónico de barrido (MEB) FEI Inspect F50

Análisis morfológico y textural de alta resolución

El microscopio electrónico de barrido de emisión de campo FEI Inspect F50 permite estudiar la morfología, la textura, la microestructura y la composición de los materiales hasta la escala nanométrica, con aumentos que pueden alcanzar 300.000X. El instrumento permite adquirir imágenes de electrones secundarios (SE) para observar la topografía de la superficie, de electrones retrodispersados (BSE) para distinguir las fases según su composición media, así como de catodoluminiscencia (CL) para revelar algunas estructuras internas y variaciones de crecimiento. La espectrometría de rayos X por dispersión de energía (EDS) permite además identificar los elementos presentes y realizar análisis puntuales.

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Disponibilidad y contacto

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Tarificación

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Tipos de muestras

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Técnica y aplicaciones

El microscopio electrónico de barrido (MEB) FEI Inspect F50 permite observar y caracterizar los materiales a escala micro y nanométrica. Un haz de electrones finamente enfocado barre la superficie de la muestra, y las distintas señales emitidas en cada punto se detectan para formar una imagen.

Cada señal aporta una información complementaria: los electrones secundarios revelan la topografía y la morfología de la superficie, los electrones retrodispersados ponen de manifiesto los contrastes de composición, la catodoluminiscencia informa sobre los defectos cristalinos y las zonaciones, y los rayos X característicos permiten identificar los elementos presentes mediante EDS.

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Técnica y aplicaciones

Tipos de muestras

Formatos y montaje

Las muestras pueden ser láminas delgadas, secciones pulidas, fragmentos, cortes, filtros o partículas. Deben estar secas, ser estables en vacío y estar firmemente fijadas sobre un soporte conductor. Los polvos se depositan generalmente sobre una cinta adhesiva conductora de carbono; deben eliminarse todas las partículas sueltas.

Preparación según el objetivo

Para la EDS cuantitativa o comparativa, se recomienda una superficie plana con pulido espejo para reducir los efectos del relieve. Para la imagen de la topografía, la textura o la morfología natural, el pulido puede destruir la información y debe evitarse.

Recubrimiento conductor: servicios ofrecidos por el MicroLab

Los materiales no conductores suelen requerir una metalización para evacuar las cargas acumuladas bajo el haz. El MicroLab ofrece servicios de recubrimiento adaptados al MEB: depósito de carbono, recomendado principalmente para la EDS, y depósitos metálicos de Au-Pd, Pt-Pd, Cr o Ag, destinados principalmente a la imagen de alta resolución. La elección del material y del espesor se hace según la naturaleza de la muestra, el aumento deseado y los elementos buscados. Un recubrimiento metálico puede mejorar la señal de electrones secundarios, pero introduce sus propias líneas X y puede ocultar detalles si el depósito es demasiado grueso.

Salud y seguridad

La presencia de sílice cristalina, nanopartículas, fibras respirables, materiales biológicos, sustancias tóxicas o cualquier otro peligro debe declararse antes de la preparación. Esta información determina el método de manipulación y la admisibilidad de la muestra.

Impacto de la preparación en la calidad y la repetibilidad

Una muestra no conductora sin recubrimiento puede acumular electrones. Esta carga desvía el haz y produce deriva, estrías, zonas sobreexpuestas, pérdida de contraste e inestabilidad analítica. Un recubrimiento conductor correctamente conectado al portamuestras disipa la carga y mejora la nitidez y la repetibilidad. Para la EDS se prefiere generalmente el carbono, ya que un metal de recubrimiento puede generar picos adicionales y absorber algunos rayos X. Para la imagen de muy alta resolución, un metal de grano fino puede mejorar el rendimiento en electrones secundarios. No obstante, la preparación debe preservar el fenómeno estudiado: un pulido, una limpieza agresiva o una película demasiado gruesa pueden modificar la topografía real. El servicio de recubrimiento ofrecido por el MicroLab permite seleccionar y aplicar el depósito en función del objetivo analítico.

MUESTRAS COMPATIBLES

Tipos de muestras

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Tarificación

Las tarifas del MicroLab se establecen en función del tipo de usuario, de la modalidad de uso del instrumento y, según el servicio, de la duración del análisis o del número de muestras. Algunas prestaciones, en particular la preparación de muestras, pueden facturarse por muestra, mientras que el uso de los instrumentos y el procesamiento de datos suelen facturarse por hora o por día.

Categorías de usuarios

Université Laval
Esta categoría comprende a los usuarios cuyos proyectos están financiados, total o parcialmente, por la Université Laval, sea cual sea la facultad o la unidad de adscripción. Incluye en particular a los estudiantes de grado, maestría o doctorado que realizan trabajos en el marco de un proyecto de investigación supervisado por un profesor o un investigador de la Université Laval.

Investigación / fondos públicos
Esta categoría agrupa a los estudiantes, profesores, investigadores y profesionales de otras universidades, cégeps o centros de investigación canadienses, cuando los trabajos se realizan en el marco de proyectos o en instituciones financiados principalmente con fondos públicos. Estos pueden proceder, en particular, de organismos gubernamentales o paragubernamentales, de programas de investigación federales o provinciales o de otras fuentes de financiación pública.

Industria
Esta categoría se aplica a las empresas privadas y a los trabajos realizados en un contexto industrial o comercial.

Modalidades de uso

Cuando se ofrecen varias modalidades para un instrumento, las tarifas distinguen el uso asistido y el autónomo.

Asistido
El instrumento es operado por el operador principal o el responsable técnico. Este se encarga, en particular, de poner en marcha el análisis, cambiar las muestras cuando es necesario y acompañar al usuario durante las distintas etapas de la medición. Esta modalidad es especialmente adecuada para los análisis que requieren una experiencia instrumental específica o para los usuarios ocasionales.

Autónomo
Tras recibir una formación adecuada, el usuario puede realizar él mismo sus análisis y, cuando es necesario, efectuar los cambios de muestras. No obstante, el uso sigue bajo la supervisión del responsable del instrumento. La formación inicial se factura en función del tiempo requerido e incluye el tiempo del personal así como el uso del instrumento.

La modalidad autónoma está reservada a los usuarios de la Université Laval y depende del instrumento, del tipo de análisis y del nivel de experiencia del usuario. Para conocer las condiciones de acceso a esta modalidad, se recomienda contactar con el responsable del equipo correspondiente.

Tarificación según la duración de los análisis

Para las prestaciones con tarifas por hora y por día, la facturación se establece en función de la duración total de uso del instrumento, incluido el tiempo necesario para su preparación y configuración para el análisis.

Para una duración inferior a 6 horas, se aplica la tarifa por hora. A partir de 6 horas y hasta 24 horas, se aplica una tarifa diaria. Más allá de 24 horas, la facturación continúa por fracciones diarias, de acuerdo con la tarifa diaria aplicable.

La tarifa diaria es especialmente ventajosa para los análisis de larga duración: su coste corresponde generalmente al de seis horas de uso, pero permite ocupar el instrumento hasta 24 horas. Por ejemplo, un análisis de 12, 18 o 24 horas se factura con la misma tarifa diaria en lugar de sumar las horas individuales.

Las prestaciones indicadas « por muestra » se facturan según el número de muestras procesadas, independientemente de esta estructura por hora o por día.

Consulte el calendario para conocer los periodos de uso previstos. Las franjas mostradas como ocupadas o provisionales pueden modificarse. Contacte con el responsable antes de planificar el envío de sus muestras.

Disponibilidad y contacto

Contacto

Profesional responsable

Nicholas Larouche, Ph.D.

418 656-2131, ext. 408052

Profesor(a) responsable

Josée Duchesne, Ph.D.

418 656-2177

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